辐射计法半球发射率测量仪D&S AERD

辐射计法半球发射率测量仪D&S AERD

可快速测量各种固体表面的发射率。
半球发射率(hemispherical emittance): 热辐射体在半球方向上的辐射出射度与处于相同温度的全辐射体(黑体)的辐射出射度的比值。
原理: 加热探测器内的热电堆，使探测器和试板之间产生温差。该温差与试板的发射率呈线性关系，通过比较高发射率标准板、低发射率标准板与试板表面温差的大小，得出试板的发射率。

ASTM C1371 - 15 Standard Test Method for Determination of Emittance of Materials Near Room Temperature Using Portable Emissometers.(便携式反射率测定仪常温下材料半球发射率的测定)。
GB/T 31389-2015 建筑外墙及屋面用热反射材料技术条件及评价方法(半球发射率的测定-辐射计法)。
HG/T 4341-2012 金属表面用热反射隔热涂料(半球发射率)。
JG/T 235-2014 建筑反射隔热涂料(半球发射率的测定-辐射计法)。
JG/T 375-2012 金属屋面丙烯酸高弹防水涂料(半球发射率的测定)。
JC/T 1040-2020 建筑外表面用热反射隔热涂料(半球发射率的测定-辐射计法)。

辐射计法半球发射率测量仪D&S AERD 主要特点:

1. 发射率数字显示，从0.01～1.00，重复性±0.01。
2. 测量时间短(约15秒)。
3. 低价格，且操作容易。

辐射计法半球发射率测量仪D&S AERD 技术参数:

检测器部份:
测定波长: 3～30μm。
重复性: ±0.01发射率単位。
输出: 约2.5mV。
响应时间: 约10秒。
电源: AC100～240V。

主机部份:
精度: 显示値±0.3%。
环境温度: -10〜40°C。
尺寸: 80(W)x152(D)X51(H)mm。
电源: DC9V。
重量: 约370克。